点激光测量系统

影像测量系统主要针对微小特征的尺寸、轮廓形状及位置测量 ，特别是对二维特征具有较高的测量效率 ，而对三维尺寸尤其是基准特征的测量 ，则采用接触式测量 ，复合式影像测量系统可替代大型二次元影像仪 ，完成对工件的接触式和非接触式复合测量。

点激光测量系统

线激光扫描可以完成快速的高密度采点测量 ，特别是对于复杂曲面 ， 激光扫描不仅可以快速取点 ，完成实际曲面与CAD数模的快速比对测量 ， 还可对未知曲面快速扫描 ，是实现逆向工程的重要技术手段。

点激光测量系统

高精度点激光测头可对工件表面进行非接触单点触发测量或连续扫描测量 ，主要用于工件表面形状误差的测量 ，例如平面度、直线度、曲面、曲线轮廓度等。点激光测量中没有测针接触工件 ，不会对工件表面产生划痕。

白光测量系统

白光测量系统采用光谱共焦原理 ，可以实现对柔性零件、透明玻璃、晶圆或其他表面不允许接触的零件实现高精度非接触测量。白光测量系统可对工件表面进行非接触单点触发测量或连续扫描测量 ，通过与数模比对 ，测量工件表面的形状误差。